Uprzejmie informujemy, iż  w dniu 2.05.2024 (czwartek) firma Aksotronik będzie nieczynna. System zamówień będzie działał normalnie i wszystkie zamówienia złożone w dniach 1.05-5.05 będą wysłane w dniu 6.052024. Jednocześnie  informujemy iż związku z wcześniejszym odbiorem przesyłek przez kuriera GLS w dniu 30.04.2024 (wtorek) prosimy o wcześniejsze składanie zamówień. Zamówienia złożone do godziny 12.30 będą zrealizowane jeszcze tego samego dnia.

Podstawka testowa ZIF 40 PIN

Produkt występuje w kategoriach

Dane techniczne

Kod002222
EAN5904257839732
jednostka szt.
Montaż podstawkiTHT
Typ podstawkiDIL zaciskowa (ZIF)
WyróżnikPodstawka zaciskowa ZIF złocona
NazwaPodstawka
Ilość pinów40 pin
Minimalny zakup1
Podstawka testowa ZIF 40 PIN
Stan magazynowy: 32  szt.

Dostępność:

LUB

  Precyzyjna podstawka testowa ZIF do układów scalonych. Posiada dźwignię przy pomocy której zaciskane jest gniazdo wielopinowe ze złoconymi stykami do obudów układów scalonych, lub innych modułów.

raster pomiędzy rzędami: 15.24 mm
raster: 2.54 mm
napięcie: prąd: 100mA/styk
żywotność: min. 25.000cykli
rezystancja styku: max. 50mΩ
temperatura pracy -25°C ÷ +70°C

Dane techniczne PDF.

 

Tagi produktu

Użyj apostrofów (') aby wpisać frazy.