Szanowni Państwo, Informujemy, że powiadomienia o dostępności produktów wysłane 17.07.2026 w godzinach od 00:00 do 05:30 zostały wygenerowane błędnie na skutek błędu sklepu internetowego. Zawarte w nich informacje o dostępności produktów są nieprawidłowe, dlatego prosimy o ich zignorowanie. Prosimy również o niekorzystanie z linków zawartych w tych wiadomościach, ponieważ prowadzą one do testowej, a nie produkcyjnej wersji sklepu.
Prawidłowe powiadomienia dotyczące dostawy, która została przyjęta na stan magazynowy w dniu dzisiejszym, zostały wysłane około godz. 08:30 oraz 12:30.
Serdecznie przepraszamy za zaistniałe niedogodności i dziękujemy za wyrozumiałość.

Podstawka testowa ZIF 40 PIN

Produkt występuje w kategoriach

Dane techniczne

Kod002222
EAN5904257839732
jednostka szt.
Montaż podstawkiTHT
Typ podstawkiDIL zaciskowa (ZIF)
WyróżnikPodstawka zaciskowa ZIF złocona
NazwaPodstawka
Ilość pinów40 pin
Producent/ImporterAksotronik sp. z o.o.
Minimalny zakup1
Podstawka testowa ZIF 40 PIN
Stan magazynowy: 18  szt.

  Precyzyjna podstawka testowa ZIF do układów scalonych. Posiada dźwignię przy pomocy której zaciskane jest gniazdo wielopinowe ze złoconymi stykami do obudów układów scalonych, lub innych modułów.

raster pomiędzy rzędami: 15.24 mm
raster: 2.54 mm
napięcie: prąd: 100mA/styk
żywotność: min. 25.000cykli
rezystancja styku: max. 50mΩ
temperatura pracy -25°C ÷ +70°C

Dane techniczne PDF.

 

Tagi produktu

Użyj apostrofów (') aby wpisać frazy.