Uprzejmie informujemy, iż związku z wcześniejszym odbiorem przesyłek przez kuriera GLS w dniu 29.03.2024 (piątek) prosimy o wcześniejsze składanie zamówień. Zamówienia złożone do godziny 12.30 będą zrealizowane jeszcze tego samego dnia.

Podstawka testowa ZIF 28 PIN 0,3" waska

Produkt występuje w kategoriach

Dane techniczne

Kod002220
EAN5904257839718
jednostka szt.
Montaż podstawkiTHT
Data dostawy2024-04-12
Typ podstawkiDIL zaciskowa (ZIF)
WyróżnikPodstawka zaciskowa ZIF złocona
NazwaPodstawka
Ilość pinów28 pin
Minimalny zakup1
Podstawka testowa ZIF 28 PIN 0,3" waska
Stan magazynowy: 0  szt.

Dostępność: Kolejna dostawa około: 2024-04-12

LUB

  Precyzyjna podstawka testowa ZIF do układów scalonych. Posiada dźwignię przy pomocy której zaciskane jest gniazdo wielopinowe ze złoconymi stykami do obudów układów scalonych, lub innych modułów.

raster pomiędzy rzędami: 7.62 mm
raster: 2.54 mm
napięcie: prąd: 100mA/styk
żywotność: min. 25.000cykli
rezystancja styku: max. 50mΩ
temperatura pracy -25°C ÷ +70°C

Dane techniczne PDF.

 

Tagi produktu

Użyj apostrofów (') aby wpisać frazy.